ส่งข้อความ
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A62.4511 Scanning Microscope Contact Tapping Mode Plane Atomic Force

Opto Edu A62.4511 การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์ โหมดสัมผัส ระนาบ แรงปรมาณู

  • แสงสูง

    กล้องจุลทรรศน์สแกน opto edu กล้องจุลทรรศน์สแกนฐานหินอ่อน opto edu กล้องจุลทรรศน์กำลังอะตอม

    ,

    marble base scanning microscope

    ,

    opto edu atomic force microscope

  • โหมดการทำงาน
    "โหมดสัมผัสโหมดสัมผัส 【ตัวเลือก】 โหมดแรงเสียดทาน โหมดเฟส โหมดแม่เหล็ก โหมดไฟฟ้าสถิต
  • เส้นโค้งสเปกตรัมปัจจุบัน
    "เส้นโค้งแรง FZ เส้นโค้ง RMS-Z"
  • โหมดสแกน XY
    การสแกนที่ขับเคลื่อนด้วยตัวอย่าง ระยะการสแกนแบบเพียโซอิเล็กทริกแบบวงปิด
  • ช่วงการสแกน XY
    วงปิด 100×100um
  • ความละเอียดการสแกน XY
    วงปิด 0.5nm
  • Z Scan Range
    5um
  • ความละเอียดการสแกน Z
    0.05Nm
  • ความเร็วในการสแกน
    0.6Hz~30Hz
  • มุมสแกน
    0~360°
  • น้ำหนักตัวอย่าง
    ≤15Kg
  • ขนาดเวที
    "Dia.100mm 【อุปกรณ์เสริม】 Dia.200mm Dia.300mm"
  • การย้ายเวที XY
    " 100x100mm, ความละเอียด 1um 【ตัวเลือกเสริม】 200x200mm 300x300mm"
  • การย้ายเวที Z
    "15mm, ความละเอียด 10nm 【ตัวเลือก】 20mm 25mm"
  • การออกแบบที่ดูดซับแรงกระแทก
    "ระบบกันสะเทือนสปริง【อุปกรณ์เสริม】 Active Shock Absorber
  • ระบบออปติคัล
    "กล้องดิจิตอล Objective 5x 5.0M 【ตัวเลือก】 Objective 10x Objective 20x"
  • สถานที่กำเนิด
    จีน
  • ชื่อแบรนด์
    OPTO-EDU
  • ได้รับการรับรอง
    CE, Rohs
  • หมายเลขรุ่น
    A62.4511
  • จำนวนสั่งซื้อขั้นต่ำ
    1PC
  • ราคา
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • รายละเอียดการบรรจุ
    บรรจุกล่องเพื่อการส่งออก
  • เวลาการส่งมอบ
    5~20 วัน
  • เงื่อนไขการชำระเงิน
    L/C, T/T, เวสเทิร์น ยูเนี่ยน
  • สามารถในการผลิต
    5000 ชิ้น / เดือน

Opto Edu A62.4511 การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์ โหมดสัมผัส ระนาบ แรงปรมาณู

เครื่องบินสแกนกล้องจุลทรรศน์กำลังอะตอม

  • การออกแบบหัวสแกนแบบโครงสำหรับตั้งสิ่งของ ฐานหินอ่อน ขั้นตอนการดูดซับสูญญากาศ ขนาดตัวอย่างและน้ำหนักนั้นไม่จำกัดโดยทั่วไป
  • A62.4510 + สแกนเนอร์เปลี่ยนความดันอิสระแบบวงปิดสามแกน ซึ่งสามารถสแกนด้วยความแม่นยำสูงในช่วงกว้าง
  • วิธีการป้อนด้วยเข็มอัจฉริยะพร้อมการตรวจจับอัตโนมัติของเซรามิกเพียโซอิเล็กทริกที่ควบคุมด้วยมอเตอร์เพื่อป้องกันโพรบและตัวอย่าง
  • การวางตำแหน่งออปติคัลอัตโนมัติ ไม่จำเป็นต้องปรับโฟกัส การสังเกตแบบเรียลไทม์และการวางตำแหน่งพื้นที่การสแกนตัวอย่างโพรบ
  • พร้อมกับโล่โลหะปิด, โต๊ะดูดซับแรงลม, ความสามารถในการป้องกันการรบกวนที่แข็งแกร่ง
  • Opto Edu A62.4511 การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์ โหมดสัมผัส ระนาบ แรงปรมาณู 0
  • Opto Edu A62.4511 การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์ โหมดสัมผัส ระนาบ แรงปรมาณู 1      

◆ กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณูเชิงพาณิชย์เครื่องแรกในประเทศจีนที่ใช้เทคโนโลยีการสแกนโพรบและตัวอย่างแบบเคลื่อนที่พร้อมกัน

◆ ครั้งแรกในประเทศจีนที่ใช้ตารางการสแกนกะเพียโซอิเล็กทริกแบบวงปิดอิสระสามแกนเพื่อให้ได้การสแกนขนาดใหญ่ที่มีความแม่นยำสูง

◆ การสแกนอิสระสามแกน XYZ ไม่ส่งผลกระทบซึ่งกันและกัน เหมาะมากสำหรับการตรวจจับวัสดุสามมิติและภูมิประเทศ

◆ การควบคุมไฟฟ้าของตารางเคลื่อนย้ายตัวอย่างและโต๊ะยก ซึ่งสามารถตั้งโปรแกรมด้วยตำแหน่งหลายจุดเพื่อให้ตรวจจับอัตโนมัติได้อย่างรวดเร็ว

◆ การออกแบบหัวสแกนโครงสำหรับตั้งสิ่งของ ฐานหินอ่อน การดูดซับสุญญากาศ และระยะการดูดซับแม่เหล็ก

◆ มอเตอร์จะควบคุมวิธีการป้อนเข็มอัจฉริยะของการตรวจจับอัตโนมัติเซรามิกแบบเพียโซอิเล็กทริกโดยอัตโนมัติเพื่อป้องกันโพรบและตัวอย่าง

◆ การวางตำแหน่งกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลเสริมกำลังขยายสูง การสังเกตแบบเรียลไทม์และการวางตำแหน่งของโพรบและพื้นที่การสแกนตัวอย่าง

◆ ระยะการสแกนแบบเพียโซอิเล็กทริกแบบวงปิดไม่ต้องการการแก้ไขแบบไม่เชิงเส้น และการกำหนดลักษณะนาโนเมตรและความแม่นยำในการวัดจะดีกว่า 99.5%

Opto Edu A62.4511 การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์ โหมดสัมผัส ระนาบ แรงปรมาณู 2

  • Opto Edu A62.4511 การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์ โหมดสัมผัส ระนาบ แรงปรมาณู 3
  •   A62.4510 A62.4511
    โหมดการทำงาน โหมดการติดต่อ
    โหมดการแตะ

    [ไม่จำเป็น]
    โหมดแรงเสียดทาน
    โหมดเฟส
    โหมดแม่เหล็ก
    โหมดไฟฟ้าสถิต
    โหมดการติดต่อ
    โหมดการแตะ

    [ไม่จำเป็น]
    โหมดแรงเสียดทาน
    โหมดเฟส
    โหมดแม่เหล็ก
    โหมดไฟฟ้าสถิต
    เส้นโค้งสเปกตรัมปัจจุบัน RMS-Z Curve
    FZ Force Curve
    RMS-Z Curve
    FZ Force Curve
    โหมดสแกน XY การสแกนด้วยโพรบขับเคลื่อน
    เครื่องสแกนท่อ Piezo
    การสแกนที่ขับเคลื่อนด้วยตัวอย่าง ระยะการสแกนแบบเพียโซอิเล็กทริกแบบวงปิด
    ช่วงการสแกน XY 70×70um วงปิด 100×100um
    ความละเอียดการสแกน XY 0.2nm วงปิด 0.5nm
    โหมดสแกน Z   การสแกนด้วยโพรบขับเคลื่อน
    Z Scan Range 5um 5um
    ความละเอียดการสแกน Z 0.05nm 0.05nm
    ความเร็วในการสแกน 0.6Hz~30Hz 0.6Hz~30Hz
    มุมสแกน 0~360° 0~360°
    น้ำหนักตัวอย่าง ≤15Kg ≤0.5Kg
    ขนาดเวที Dia.100mm

    [ไม่จำเป็น]
    Dia.200mm
    Dia.300mm
    Dia.100mm

    [ไม่จำเป็น]
    Dia.200mm
    Dia.300mm
    การย้ายเวที XY 100x100 มม. ความละเอียด 1um

    [ไม่จำเป็น]
    200x200mm
    300x300mm
    100x100 มม. ความละเอียด 1um

    [ไม่จำเป็น]
    200x200mm
    300x300mm
    การย้ายเวที Z 15 มม. ความละเอียด 10 นาโนเมตร
    [ไม่จำเป็น]
    20mm
    25mm
    15 มม. ความละเอียด 10 นาโนเมตร
    [ไม่จำเป็น]
    20mm
    25mm
    การออกแบบที่ดูดซับแรงกระแทก ระบบกันสะเทือนสปริง

    [ไม่จำเป็น]
    โช้คอัพแอคทีฟ
    ระบบกันสะเทือนสปริง

    [ไม่จำเป็น]
    โช้คอัพแอคทีฟ
    ระบบออปติคัล วัตถุประสงค์ 5x
    กล้องดิจิตอล 5.0M

    [ไม่จำเป็น]
    วัตถุประสงค์ 10x
    วัตถุประสงค์ 20x
    วัตถุประสงค์ 5x
    กล้องดิจิตอล 5.0M

    [ไม่จำเป็น]
    วัตถุประสงค์ 10x
    วัตถุประสงค์ 20x
    เอาท์พุต USB2.0/3.0 USB2.0/3.0
    ซอฟต์แวร์ รับรางวัล XP/7/8/10 รับรางวัล XP/7/8/10
    ตัวหลัก Gantry Scan Head, ฐานหินอ่อน Gantry Scan Head, ฐานหินอ่อน
  • กล้องจุลทรรศน์ กล้องจุลทรรศน์ออปติคอล กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์โพรบ
    ความละเอียดสูงสุด (อืม) 0.18 0.00011 0.00008
    ข้อสังเกต แช่น้ำมัน 1500x การถ่ายภาพอะตอมคาร์บอนของเพชร การถ่ายภาพอะตอมกราไฟท์คาร์บอนลำดับสูง
    Opto Edu A62.4511 การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์ โหมดสัมผัส ระนาบ แรงปรมาณู 4   Opto Edu A62.4511 การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์ โหมดสัมผัส ระนาบ แรงปรมาณู 5
  • ปฏิสัมพันธ์ของโพรบกับตัวอย่าง วัดสัญญาณ ข้อมูล
    บังคับ แรงไฟฟ้าสถิต รูปร่าง
    กระแสอุโมงค์ หมุนเวียน รูปร่างการนำไฟฟ้า
    แรงแม่เหล็ก เฟส โครงสร้างแม่เหล็ก
    แรงไฟฟ้าสถิต เฟส การกระจายค่าใช้จ่าย
  •   ปณิธาน สภาพการทำงาน อุณหภูมิในการทำงาน สร้างความเสียหายให้กับตัวอย่าง ความลึกของการตรวจสอบ
    SPM ระดับอะตอม 0.1nm ปกติ ของเหลว สุญญากาศ ห้องหรืออุณหภูมิต่ำ ไม่มี ระดับอะตอม 1~2
    TEM จุด 0.3~0.5nm
    ตาข่าย 0.1 ~ 0.2nm
    สูญญากาศสูง อุณหภูมิห้อง เล็ก โดยปกติ <100nm
    SEM 6-10 นาโนเมตร สูญญากาศสูง อุณหภูมิห้อง เล็ก 10mm @10x
    1um @ 10000x
    FIM ระดับอะตอม 0.1nm สูญญากาศสูงพิเศษ 30~80K ดาเมจ ความหนาของอะตอม
  • Opto Edu A62.4511 การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์ โหมดสัมผัส ระนาบ แรงปรมาณู 6
  •  
  •  
  •