Probe Scanning Atomic Force Microscope

• การออกแบบหัวสแกนแบบโครงสำหรับตั้งสิ่งของ ฐานหินอ่อน ขั้นตอนการดูดซับสูญญากาศ ขนาดตัวอย่างและน้ำหนักนั้นไม่จำกัดโดยทั่วไป
• วิธีการป้อนด้วยเข็มอัจฉริยะพร้อมการตรวจจับอัตโนมัติของเซรามิกเพียโซอิเล็กทริกที่ควบคุมด้วยมอเตอร์เพื่อป้องกันโพรบและตัวอย่าง
• การวางตำแหน่งออปติคัลอัตโนมัติ ไม่จำเป็นต้องปรับโฟกัส การสังเกตแบบเรียลไทม์และการวางตำแหน่งพื้นที่การสแกนตัวอย่างโพรบ
• พร้อมกับโล่โลหะปิด, ตารางดูดซับแรงกระแทกด้วยลม, ความสามารถในการป้องกันการรบกวนที่แข็งแกร่ง;
• ตัวแก้ไขผู้ใช้การแก้ไขแบบไม่เชิงเส้นของสแกนเนอร์ในตัว การกำหนดลักษณะนาโนเมตรและความแม่นยำในการวัดดีกว่า 98%

• 
• 

• ◆ กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณูเชิงพาณิชย์เครื่องแรกในประเทศจีนที่ช่วยให้ตัวอย่างอยู่กับที่และโพรบเคลื่อนที่และสแกน

  ◆ ขนาดและน้ำหนักของตัวอย่างแทบไม่จำกัด เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจจับตัวอย่างที่มีขนาดใหญ่มาก

• ◆ ระยะตัวอย่างสามารถขยายได้สูง ซึ่งสะดวกมากสำหรับการรวมเครื่องมือหลายตัวเพื่อตรวจจับในแหล่งกำเนิด

  ◆ การควบคุมไฟฟ้าของตารางเคลื่อนย้ายตัวอย่างและโต๊ะยก ซึ่งสามารถตั้งโปรแกรมด้วยตำแหน่งหลายจุดเพื่อให้ตรวจจับอัตโนมัติได้อย่างรวดเร็ว

  ◆ การออกแบบหัวสแกนโครงสำหรับตั้งสิ่งของ ฐานหินอ่อน การดูดซับสุญญากาศ และระยะการดูดซับแม่เหล็ก

• ◆ มอเตอร์จะควบคุมวิธีการป้อนเข็มอัจฉริยะของการตรวจจับอัตโนมัติเซรามิกแบบเพียโซอิเล็กทริกโดยอัตโนมัติเพื่อป้องกันโพรบและตัวอย่าง

• ◆ การวางตำแหน่งกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลเสริมกำลังขยายสูง การสังเกตแบบเรียลไทม์และการวางตำแหน่งของโพรบและพื้นที่การสแกนตัวอย่าง

• ◆ ตัวแก้ไขผู้ใช้การแก้ไขแบบไม่เชิงเส้นของสแกนเนอร์ในตัว การกำหนดลักษณะนาโนเมตรและความแม่นยำในการวัดดีกว่า 98%

• 

•  

• 

• 	A62.4510	A62.4511
  โหมดการทำงาน	โหมดการติดต่อ โหมดการแตะ [ไม่จำเป็น] โหมดแรงเสียดทาน โหมดเฟส โหมดแม่เหล็ก โหมดไฟฟ้าสถิต	โหมดการติดต่อ โหมดการแตะ [ไม่จำเป็น] โหมดแรงเสียดทาน โหมดเฟส โหมดแม่เหล็ก โหมดไฟฟ้าสถิต
  เส้นโค้งสเปกตรัมปัจจุบัน	RMS-Z Curve FZ Force Curve	RMS-Z Curve FZ Force Curve
  โหมดสแกน XY	การสแกนด้วยโพรบขับเคลื่อน เครื่องสแกนท่อ Piezo	การสแกนที่ขับเคลื่อนด้วยตัวอย่าง ระยะการสแกนแบบเพียโซอิเล็กทริกแบบวงปิด
  ช่วงการสแกน XY	70×70um	วงปิด 100×100um
  ความละเอียดการสแกน XY	0.2nm	วงปิด 0.5nm
  โหมดสแกน Z		การสแกนด้วยโพรบขับเคลื่อน
  Z Scan Range	5um	5um
  ความละเอียดการสแกน Z	0.05nm	0.05nm
  ความเร็วในการสแกน	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  มุมสแกน	0~360°	0~360°
  น้ำหนักตัวอย่าง	≤15Kg	≤0.5Kg
  ขนาดเวที	Dia.100mm [ไม่จำเป็น] Dia.200mm Dia.300mm	Dia.100mm [ไม่จำเป็น] Dia.200mm Dia.300mm
  การย้ายเวที XY	100x100mm ความละเอียด 1um [ไม่จำเป็น] 200x200mm 300x300mm	100x100 มม. ความละเอียด 1um [ไม่จำเป็น] 200x200mm 300x300mm
  การย้ายเวที Z	15 มม. ความละเอียด 10 นาโนเมตร [ไม่จำเป็น] 20mm 25mm	15 มม. ความละเอียด 10 นาโนเมตร [ไม่จำเป็น] 20mm 25mm
  การออกแบบที่ดูดซับแรงกระแทก	ระบบกันสะเทือนสปริง [ไม่จำเป็น] โช้คอัพแอคทีฟ	ระบบกันสะเทือนสปริง [ไม่จำเป็น] โช้คอัพแอคทีฟ
  ระบบออปติคัล	วัตถุประสงค์ 5x กล้องดิจิตอล 5.0M [ไม่จำเป็น] วัตถุประสงค์ 10x วัตถุประสงค์ 20x	วัตถุประสงค์ 5x กล้องดิจิตอล 5.0M [ไม่จำเป็น] วัตถุประสงค์ 10x วัตถุประสงค์ 20x
  เอาท์พุต	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  ซอฟต์แวร์	รับรางวัล XP/7/8/10	รับรางวัล XP/7/8/10
  ตัวหลัก	Gantry Scan Head, ฐานหินอ่อน	Gantry Scan Head, ฐานหินอ่อน

• กล้องจุลทรรศน์	กล้องจุลทรรศน์ออปติคอล	กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน	การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์โพรบ
  ความละเอียดสูงสุด (อืม)	0.18	0.00011	0.00008
  ข้อสังเกต	แช่น้ำมัน 1500x	การถ่ายภาพอะตอมคาร์บอนของเพชร	การถ่ายภาพอะตอมกราไฟท์คาร์บอนลำดับสูง

• ปฏิสัมพันธ์ของโพรบกับตัวอย่าง	วัดสัญญาณ	ข้อมูล
  บังคับ	แรงไฟฟ้าสถิต	รูปร่าง
  กระแสอุโมงค์	หมุนเวียน	รูปร่างการนำไฟฟ้า
  แรงแม่เหล็ก	เฟส	โครงสร้างแม่เหล็ก
  แรงไฟฟ้าสถิต	เฟส	การกระจายค่าใช้จ่าย

• 	ปณิธาน	สภาพการทำงาน	อุณหภูมิในการทำงาน	สร้างความเสียหายให้กับตัวอย่าง	ความลึกของการตรวจสอบ
  SPM	ระดับอะตอม 0.1nm	ปกติ ของเหลว สุญญากาศ	ห้องหรืออุณหภูมิต่ำ	ไม่มี	ระดับอะตอม 1~2
  TEM	จุด 0.3~0.5nm ตาข่าย 0.1 ~ 0.2nm	สูญญากาศสูง	อุณหภูมิห้อง	เล็ก	โดยปกติ <100nm
  SEM	6-10 นาโนเมตร	สูญญากาศสูง	อุณหภูมิห้อง	เล็ก	10mm @10x 1um @ 10000x
  FIM	ระดับอะตอม 0.1nm	สูญญากาศสูงพิเศษ	30~80K	ดาเมจ	ความหนาของอะตอม

• 
•  
•  

•